عناصر مشابهة

Automatic Testing and Fault Detection for Digital and Microprocessor Circuits

تفصيل البيانات البيبلوغرافية
الناشر: القاهرة
المؤلف الرئيسي: El Sherif, Hisham Mostafa Kamal (auth)
مؤلفين آخرين: Mahrous, Safwat M. (Advisor), Asfour, R. A. (Advisor), El Hennawy, H. (Advisor)
التاريخ الميلادي:1991
الصفحات:1 - 141
رقم MD:565408
نوع المحتوى: رسائل جامعية
اللغة:English
قواعد المعلومات:Dissertations
الدرجة العلمية:رسالة ماجستير
الجامعة:جامعة عين شمس
الكلية:كلية الهندسة
مواضيع:
رابط المحتوى:
الوصف
الوصف غير موجود.